IEEE C63解釈集解説セミナー
開催概要
| タイトル | IEEE C63 解釈集解説セミナー |
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| 日時 | 2014年5月30日（金） 13:30～17:00 （受付開始 13:00～） |
| 会場 | 電子会館 4階 会議室A（大阪）  |
| 参加費 |
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| 内容 | EMC専門委員会・北米規格調査出版WGは、IEEEのWEBで公開されているC63解釈を翻訳し出版することを平成25年度の活動とし、WG委員の作業にて翻訳を完了し成果物として『IEEE/C63解釈集』を出版致します。 本セミナーは、その内容の理解を深めていただくために、北米規格に精通されNVLAP/JAB/A2LA試験所審査員、EMC/SAR/HAC測定技術、iNARTE EMC EngineerでもあられるPCTEST Japan株式会社 代表取締役 田沼 幸男 氏を講師にお招きし、開催する運びになりました。 |
| プログラム | プログラムを確認する |
| お申し込み | 下記ボタンから指定の申込用紙 をダウンロードしてください。必要事項をすべてご記入のうえ、Excelファイルを添付しフォームよりお申し込みください。フォームがご利用になれない場合は、Excelファイルを事務局（publication01@kec.jp）までお送りください。 受付完了後、メールにてご連絡差し上げます（返信がない段階ではお申し込みは完了しておりません）。 お申し込み内容について不明な点があった場合、メールにて確認させていただくことがございます。 |
| 定員 | 40名 |
| 申込締切 | 定員になり次第募集締切 |
| お問い合わせ | IEEE C63 解釈集解説セミナー 事務局 : 小笠原 / 奥田 TEL: 0774-29-9041 FAX: 0774-93-4564 E-mail: publication01@kec.jp |
